Методическое и информационное обеспечение рентгенофлуоресцентного анализа горных пород

ОБОЗНАЧЕНИЯ И СОКРАЩЕНИЯ А	- атомная масса

С{	- содержание (массовая доля) / компонента в пробе (химического

элемента, его соединения)

Е0, Е - энергия электронов, соответствующая У0 , энергия

Еч	- энергия ионизации д-оболочки

/	- интенсивность рентгеновского излучения

А, 1е	- спектральная интенсивность рентгеновского излучения

,/	- средний потенциал ионизации атома

Ад	- число Авогадро

РЧ1	- вероятность возбуждения /-линии д-ссрии

(А	-поперечное сечение ионизации электронами д- оболочки

К	- относительная интенсивность, фактор обратного рассеяния

электронов

Гц	-вероятность поглощения д-оболочкой

51	- тормозная способность вещества для электронов

Яд	- скачок поглощения д-оболочки

Ц Е'о	- перенапряжение

Ко, V	- ускоряющий потенциал, потенциал

2	- атомный номер элемента

ау	- коэффициент влияния элемента / на элемент /, а- коэффициент

ц	- коэффициент обратного рассеяния электронов

сКд/сГк	- угловая дисперсия

ко	- коротковолновая граница непрерывного спектра

к, к,	- длина волны рентгеновского излучения

кд	- длина волны края поглощения д-серии



XIс1Х	- разрешающая сила

сШХ	- относительное спектральное разрешение

ц	-	массовый коэффициент ослабления

Ц/	- линейный коэффициент ослабления

ца	- атомный коэффициент ослабления

ц,у	- массовый	коэффициент ослабления элементом / излучения

элемента I

с	- массовый	коэффициент рассеяния, коэффициент Ленарда,

постоянная экранирования т	-	массовый	коэффициент фотоэлектрического поглощения

(р	- угол падения первичного рентгеновского излучения

\/	-	угол отбора регистрируемого рентгеновского излучения

(яд	- выход флуоресценции д-оболочки

АО	- анализируемый образец

БД	- база данных

КДС	- кристалл-дифракционный спектрометр

МКО	- массовый коэффициент ослабления

МНК	- метод наименьших квадратов

МФП	- способ (метод) фундаментальных параметров

ОС	- образец сравнения

ГЖ	- персональный компьютер

ПО	- программное обеспечение

ППД	- полупроводниковый детектор

ППП	- потери при прокаливании

РЗЭ	- редкоземельные элементы

РСА	- рентгеноспектральный анализ

РТ	- рентгеновская трубка



РФ	- рентгеновская флуоресценция

РФА	- рентгенофлуоресцентный анализ

РЭМ	- растровый электронный микроскоп

СОС	- стандартный образец состава

ТУ	- терминальное устройство (дисплей, телетайп)

ФП	- фундаментальные параметры

ХРИ	-характеристическое рентгеновское излучение

ЭДРФА - энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный анализ

ЭДС - энергодисперсионный спектрометр

ЭЗРА - электронно-зондовый рентгеноспектральный анализ


 Выражения для расчета третичной РФ получены в работах [57, 75, 76], для вычисления дополнительного вклада в интенсивность аналитической линии за счет рассеяния - в работах [51, 78], за счет оже-электронов - в работах [51, 82, 84]. В связи с тем, что вклад третичной РФ, рассеяния и оже-электронов в возбуждение излучения аналитических линий элементов с 1> 11 незначителен, коррекция этих эффектов в данной работе не рассматривается.

1.3.3.	Расчет содержаний элементов

Массовую долю элемента г находят по формуле

где с°с - массовая доля определяемого элемента i в ОС; /°с - интенсивность аналитической линии от ОС, из решения системы уравнений получают

Здесь I, - интенсивность аналитической линии от АО (пробы). Введя обозначения



О+Уг)

Записывая такое же выражение для ОС



у ОС



(1.20)

(1.21)

-0+уГ )/0+у, ),

(1.22)