Сканирующая зондовая микроскопия нуклеиновых кислот и тонких органических пленок

  • Автор:
  • Специальность ВАК РФ: 01.04.07
  • Научная степень: Кандидатская
  • Год защиты: 1999
  • Место защиты: Москва
  • Количество страниц: 227 с. : ил.
  • бесплатно скачать автореферат
  • Стоимость: 230 руб.
Титульный лист Сканирующая зондовая микроскопия нуклеиновых кислот и тонких органических пленок
Оглавление Сканирующая зондовая микроскопия нуклеиновых кислот и тонких органических пленок
Содержание Сканирующая зондовая микроскопия нуклеиновых кислот и тонких органических пленок
Оглавление
Введение
Цель и задачи исследования
Обзор литературы
1. Основные принципы сканирующей зондовой микроскопии
1.1. Общие принципы работы сканирующего зондового микроскопа
1.2. Сканирующая туннельная микроскопия
1.3. Атомно-силовая микроскопия
1.3.1. Силовое взаимодействие зонда и образца
1.3.2. Принцип работы АСМ
1.4. Основные методы исследования биологических и органических объектов и структур
1.5. Сканирующая зондовая микроскопия нуклеиновых кислот
1.5.1. Основные методики препарирования образцов для зондовой микроскопии нуклеиновых кислот
1.5.2. Применение зондовой микроскопии для исследования структуры и свойств молекул нуклеиновых кислот и их комплексов
Теоретическая часть
2. Анализ искажающих эффектов атомно-силовой микроскопии
2.1. Контактные деформации зонда и образца
2.1.1. Контакт двух тел: решение контактной задачи Герца
2.1.2. Контакт сферического зонда и сферического образца

2.1.3. Контакт сферического зонда и цилиндрического образца
2.1.4. Динамика переходного процесса контактных деформаций
2.1.5. Возможность достижения атомного разрешения с помощью ACM
2.2. Задача восстановления реальной геометрии объектов по
АСМ-изображению (учет эффекта уширения)
2.2.1. Постановка и решение задачи об определении ширины объектов по измеренным параметрам АСМ-профиля
Экспериментальная часть
3. АСМ-исследования взаимодействия вирусной РНК с белками
3.1. Исследование процессов разрушения белковой оболочки частиц вируса табачной мозаики и высвобождения вирусной РНК
3.1.1. Результаты и их обсуждение
3.1.2. Анализ распределения молекул РНК по длинам
3.1.3. Краткие выводы
4. Зондовая микроскопия процессов конденсации ДНК
4.1. Исследование конформационных изменений ДНК при взаимодействии с поверхностно-активными веществами
4.1.1. Возможность исследования конформационных свойств комплексов ДНК-ПАВ методом СТМ
4.1.2. Определение геометрии комплексов ДНК-ПАВ, перешедших через границу раздела фаз вода/хлороформ, по результатам ACM
4.2. Исследование изменений конформации ДНК в водноспиртовых средах
4.2.1. Исследование сконденсированных в водно-спиртовой
среде молекул ДНК при проведении исследований на воздухе

4.2.2. Исследование процессов конденсации ДНК непосредственно в водно-спиртовой среде
4.2.3. Краткие выводы
5. Применение метода ACM для анализа структуры тонких органических пленок
5.1. Влияние процессов внедрения CdTe-кластеров на структуру тонкопленочных покрытий бегеновой кислоты
5.1.1. Экспериментальная часть
5.1.2. Результаты и их обсуждение
5.2. Исследование тонких пленок белков
5.3. Исследование влияния условий формирования покрытий и природы подложки на молекулярную упаковку тонких
органических пленок
5.3.1. Результаты исследований молекулярной упаковки
тонких пленок
Заключение
Выводы
Благодарность
Библиография
А. Приложение
А.1. Программа, реализующая численное решение задачи о
контактных деформациях зонда и цилиндрического образца220 А.2. Программа, реализующая численное решение задачи восстановления реальной геометрии объекта по измеренному
АСМ-профилю
А.З. Параметры промышленных кантилеверов

Дифракционные методы успешно используются и для анализа свойств поверхности, позволяя достигать высокой точности в определении реконструируемых пространственных параметров (при условии достаточной упорядоченности исследуемой структуры). Особенно широко используется метод электронографии, поскольку, из-за сильного взаимодействия электронов с веществом, определяющим в дифракционной картине является вклад именно ближайших к поверхности атомных слоев. В случае рентгеноструктурных исследований поверхности приходится использовать «скользящую» геометрию падающего луча и достаточно мощный источник излучения.
Метод рентгеноструктурного анализа применим и для исследований систем частиц, расположение которых не характеризуется ближним или дальним порядком: в этом случае анализируют рассеяние рентгеновских лучей под малыми углами. Этот подход позволяет определять либо форму, либо размеры микрообъектов системы (для решения задачи какая-то информация должна быть известна [28]). Если объекты исследуемого ансамбля характеризуются некоторым распределением по параметру, через который выражается искомый, то точность его восстановления ограничена. Например, при восстановлении формы частиц, разброс их по размерам резко снижает точность решения обратной задачи (если оно вообще может быть найдено) [28], и наоборот. Дополнительная информация, необходимая для корректной постановки обратной задачи, может быть получена с помощью других методов исследования — в том числе сканирующей зондовой микроскопии.
Электронная микроскопия
Метод электронной микроскопии (ЭМ), за годы своего существования, был дополнен множеством вспомогательных методик препарирования образцов для исследований биообъектов [29]. Проблема в том, что биообъекты состоят из веществ с малыми атомными номерами, следствием чего является малое число рассеянных электронов и, в итоге, отсутствие разрешения. Сегодня наиболее часто используемые способы контрастирования биообъектов для ЭМ-исследований — это приготовление реплик, оттенение запылением металлами, «окрашивание» отдельных частиц и молекул ионами тяжелых металлов. Высокое разрешение

Рекомендуемые диссертации данного раздела